新的MICROTEST®主軸測量系統首次把高測量準確度跟多重測量範圍結合為一，這是迄今之前達不到的技術。

現在常見的三點內徑千分尺是以錐體系統或類似的錐形系統為基礎。這些系統在測量行程和/或準確度是非常有限的。一個位於工具上方的測量主軸通過軸把縱向運動傳播到圓錐體，然後這個錐體把測量探頭推出來。

MICROTEST®系統: 探頭上測量螺母的螺紋只會有極微小的、直線性平均分布整個面積的磨損，因為在螺紋表面有很大的接觸面積可用。 在測量了1000次之後在同一個位置只會出現輕微的、直線性平均分布整個範圍的、很難察覺的磨損。在每一次例行校準時都會自動線性補償校正！

錐體系統: 探頭在一條直線上接觸錐體，這會導致嚴重的磨損，而且是局部的、而不是線性的磨損。通常在校準時這個問題不會被慮及，因為大多數情況下只在測量範圍的末端有校準環。這可能會導致顯著的測量誤差。

不可能自動補償校正!

MICROTEST®系統具有成比例的、線性的性能。
溫度應變誤差將會在很大程度上得到補償，所以即使在超出額定溫度20° C的測量時，也可取得幾乎等同在測量室進行測量的精確結果。

儘管我們的設計已經非常不受溫度影響，我們仍然還是貼心的為測量工具在所有接觸點做絕緣，以完全排除不想要的手溫。傳統的錐體系統具有不確定的和不受控制的性能。這取決於圓錐體和測量主軸之間連接元件當前的膨脹情況。而且傳統的錐體系統通常都沒有對手溫的保護。

探頭的長線接觸面造就最佳的三維定位對中。通過刻度頭的堅硬棘輪而產生會轉移到探頭/主軸系統的振動。由此而使得測量工具能夠又迅速又正確的定心對中。由於不斷建立測量壓力，手工的測量感覺會被排除掉。這造就了不受操作人員影響的、高達 ±1微米的重複準確度（直徑可達400毫米）。